类型:电子测量 设备生产产地:日本 型号:HBM-M
品牌:NOISEKEN 产品数量:1 新旧程度:8成新
设备所在地:深圳
Noiseken(噪声研究所)HBM-M
特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。
半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。
对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带电型的试验。还有,可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。
最适合用于进行
LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。
精密型支架
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可做最高输出电压±8KV 试验(ESS-6008)
可做出留有余量的试验
可对各种间距的受测元件进行静电施加试验
可搭配精密测台,以半自动(Y 轴)的脚位移动而正确的对待
测物施加静电
可做最低试验电压±10V 的试验(ESS-6002)
对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加
可对应规格
对应标准