◆ 设备用途等离子体增强化学气相淀积(简称PECVD),主要用途是在硅片表面淀积一层减反射氮化硅膜(SixNy),同时利用在淀积过程中产生的活性H+离子,对硅片表面和内部进行钝化处理。在体现减少光反射的同时,也提高了硅片的少子寿命,最终直接体现在晶体硅电池的转换效率。该设备为国内唯一的第四代PECVD设备,综合性能媲美国际一流产品,其超越同行的实际成膜均匀性,大大减少了上代设备的色差现象,尤其适用于多晶电池片的工艺生产。◆ 产品亮点1、单管产能全球率先达到280片(125方片)2、业内独有、领先的压控/温控技术,最成熟的工艺支持3、国产设备中唯一可媲美世界一流设备的成膜均匀性和表面色差4、设备有效工作时间较其他国产设备高5%以上5、自动上下舟系统中国内唯一采用进口精密直线单元<!--[if !supportLists]-->◆ <!--[endif]-->主要技术参数
序号 | 指 标 项 目 | 指 标 值 |
1 | 成膜种类 | 氮化硅 |
2 | 装片尺寸 | □125mm,□156mm |
3 | 装片量 | 352片/批(□125mm),308片/批(□156mm) |
4 | 送舟方式 | 软着陆 |
5 | 膜厚均匀性 | 片内≤±4% 片间≤±4% 批间≤±3%(膜厚目标值75nm) |
6 | 折射率 | 2.0~2.1 |
7 | 工作温度范围 | 100~500℃ |
8 | 控温段数 | 5段 |
9 | 升温方式 | 自动斜率升温及快速恒温功能 |
10 | 恒温区精度及长度 | ±2℃/1200mm(500℃) |
11 | 单点温度稳定度 | <±1℃/4h(500℃) |
12 | 升温时间 | RT→450℃≤45min |
13 | 温度控制 | 双模控制 |
14 | 系统极限真空度 | <1Pa |
15 | 工艺压力范围 | 80 Pa~320Pa |
16 | 恢复真空时间 | AP→10 Pa<5min |
17 | 系统漏气率 | 停泵关阀后压力升率<0.5Pa /min. |
18 | 压力控制方式 | 快速调整全自动闭环 |
19 | 炉门密封方式 | 柔性自适应密封 |
20 | 工艺控制方式 | 工艺过程全自动控制,多重安全连锁报警 |
21 | 人机交互界面 | LCD显示、触摸操作、工艺编辑、在线监控、权限管理、班组管理、组网功能 |
22 | 送料方式 | 自动上下舟 |
23 | 外形尺寸 | 6650×2040×3580(L×W×H,mm,四管) |